Полезное:
Как сделать разговор полезным и приятным
Как сделать объемную звезду своими руками
Как сделать то, что делать не хочется?
Как сделать погремушку
Как сделать так чтобы женщины сами знакомились с вами
Как сделать идею коммерческой
Как сделать хорошую растяжку ног?
Как сделать наш разум здоровым?
Как сделать, чтобы люди обманывали меньше
Вопрос 4. Как сделать так, чтобы вас уважали и ценили?
Как сделать лучше себе и другим людям
Как сделать свидание интересным?
Категории:
АрхитектураАстрономияБиологияГеографияГеологияИнформатикаИскусствоИсторияКулинарияКультураМаркетингМатематикаМедицинаМенеджментОхрана трудаПравоПроизводствоПсихологияРелигияСоциологияСпортТехникаФизикаФилософияХимияЭкологияЭкономикаЭлектроника
|
Список экзаменационных вопросов по дисциплинеВопросы к экзамену по дисциплине "Системы сбора и обработки данных" Часть 1
9. Алгоритмы повышения точности измерений на примере теплоизмерительной системы. 10. Контроль – основные определения и задачи. Классификация систем контроля. 11. Системы контроля. Структуры и разновидности каналов контроля. 12. Операции, выполняемые при контроле. Характеристики систем контроля. 13. Полнота контроля. Способы оценки полноты контроля. 14. Достоверность контроля. Ошибки контроля, природа возникновения ошибок. 15. Оценка ошибки контроля 1-го рода. 16. Оценка ошибки контроля 2-го рода. 17. Надежность систем контроля, способы оценки надежности. 18. Эффективность контроля, способы оценки эффективности. 19. Пpедмет и задачи технической диагностики. Основные опpеделения. 20. Виды ошибок и неиспpавностей. Модели объектов диагностиpования. 21. Таблица функций неиспpавностей. Совокупности обнаpуживающих и pазличающих пpовеpок. 22. Синтез теста контроля по таблице функций неисправностей. 23. Синтез диагностического теста по таблице функций неисправностей. 24. Оптимизация тестов. 25. Хаpактеpистики систем диагностирования. 26. Системы функционального диагностиpования. 27. Системы тестового диагностиpования. 28. Модели объектов дискpетного пpинципа действия. Комбинационные схемы. 29. Постpоение тестов методом pазличающих функций. 30. Постpоение тестов методом существенных путей. 31. Модели автоматов с памятью. Особенности диагностиpования автоматов с памятью. 32. Пpоблемы испытаний микpопpоцессоpных систем. Методы испытаний. 33. Анализ логических состояний. Устpойство и пpинцип действия анализатоpов логических состояний. 34. Сигнатурный анализ. Оценка достоверности контроля. 35. Устpойство и пpинцип действия сигнатурного анализатора. Алгоритм локализации неисправностей. Часть 2
Баран Ефим Давидович
Список вопросов по дисциплине “Методы и средства проектирования информационных систем и технологий”
1. Разработка проекта задачи " Формирование общезаводского графика запуска-выпуска изделий, СЕ и деталей". Алгоритм групповой выборки структурного состава изделий и сложных компонентов. 2. Разработка проекта задачи "Формирование общезаводского графика запуска-выпуска изделий, СЕ и деталей ". Основной алгоритм расчета общезаводского графика. 3. Алгоритм расчёта графика общей потребности в предметах производства. 4. Алгоритм расчёта графика чистой потребности в деталях и сборочных единицах собственного изготовления. 5. Алгоритм формирования плана выпуска предметов. 6. Алгоритм формирования плана запуска предметов в производство. 7. Алгоритм формирования графика общей потребности в материалах. 8. Алгоритм формирования графиков прохождения плановых заказов по технологическим операциям. 9. Алгоритм дополнения графиков прохождения плановых заказов по технологическим операциям с учётом открытых заказов. 10. Алгоритм расчета необходимого фонда времени технологических операций. 11. Алгоритм расчета необходимого фонда времени рабочих центров (РЦ). 12. Алгоритм расчета коэффициентов загрузки РЦ по дням горизонта планирования. 13. Алгоритм расчета коэффициентов загрузки РЦ по плановым периодам. 14. Алгоритм формирования графиков прохождения плановых заказов с учётом перекрытия выполнения технологических операций. 15. Этапы функционального и технологического проектирования АИС. Алгоритм поиска списка и просмотра характеристик методического приёма. 16. Алгоритм ввода и редактирования методических приёмов (МП) автоматизированной информационно-справочной системы по технологиям обучения. 17. Алгоритм создания вспомогательных таблиц классификационной структуры с учетом предыстории. 18. Алгоритм поиска списка и просмотра характеристик методических приемов по классификационной структуре. 19. Алгоритм поиска списка и просмотра характеристик методических приемов по достигаемой цели. 20. Алгоритм поиска списка и просмотра характеристик методических приемов по видам учебных занятий. 21. Алгоритм поиска списка и просмотра характеристик методических приемов по циклам дисциплин. 22. Алгоритм записи в БД информации о включении методического приема в классификационную структуру. 23. Алгоритм выбора и записи в БД информации о достигаемых методическим приемом целях. 24. Алгоритм выбора и записи в БД информации о видах занятий, описываемых в методическом приеме. 25. Алгоритм выбора и записи в БД информации о циклах дисциплин, описываемых в методическом приеме. 26. Алгоритм формирования списка сотрудников выбранного СП, имеющих более двух совместительств на данный момент времени. Предусмотреть возможность продолжения формирования списков по другим СП. 27. Алгоритм формирования списка сотрудников по всем СП организации для проведения плановой аттестации. 28. Алгоритм формирования списка сотрудников СП, несвоевременно сдавших отчет о командировке за период с заданной до текущей даты. Предусмотреть возможность продолжения формирования списков по другим СП (список готовится для руководителя СП). 29. Алгоритм формирования списка сотрудников по группе выбираемых СП, несвоевременно сдавших отчет о командировке за период с заданной до текущей даты (список готовится для зам. директора по научной работе). 30. Алгоритм формирования списка сотрудников организации, несвоевременно сдавших отчет о командировке за период с заданной до текущей даты (список готовится для зам. директора по научной работе).
Раздобреев Михаил Михайлович
Список экзаменационных вопросов по дисциплине «Компьютерные технологии»
1. Особенности NI LabVIEW 2010, новые возможности. Что дает использование в коде структуры “In Place Element Structure”? Как работать с проектом в LabVIEW? Для чего нужны локальные переменные?
2. Базовые функции LabVIEW, предназначенные для генерации, фильтрации и спектрального анализа сигналов (палитра All Functions -> Signal Processing). Каким образом можно определить пики и их параметры в измеряемом сигнале? С помощью каких средств можно проводить статистический анализ сигналов?
3. Тип данных Waveform: состав, назначение. Основные функции для работы с ним (палитра All Functions -> Programming -> Waveform и палитра All Functions -> Signal Processing). Analog и Digital Waveform: особенности использования.
4. Узлы свойств Property Node – назначение, возможности, методы создания и настройки. Связка «структура последовательности+property node» при работе со свойствами графиков.
5. Модульная система сбора данных NI CompactDAQ, ее назначение и типовые конфигурации.
6. Кластер ошибок: состав и назначение. Функции и средства для работы с ним. Механизм просмотра описания ошибок «explain error». Схемы передачи ошибки на блок-диаграмме.
7. Расширенный файловый ввод/вывод и его отличие от стандартного. Процедуры для работы с хранилищем «storage». LabVIEW Measurement формат (*.lvm): назначение и внутренняя структура.
8. Краткое описание технологий на основе FPGA (ПЛИС), принципы построения реконфигурируемых систем на основе аппаратного и программного обеспечения от National Instruments. Характеристика и возможности системы NI CompactRIO.
9. Концепция и механизмы создания отчетов в LabVIEW (палитра All Functions -> Programming -> Report Generation). Способы размещения графиков в html-отчете. Преимущества и недостатки HTML- и Excel-форматов отчетов.
10. Работа с базами данных в LabVIEW: инструменты Database Connectivity (состав, структура формирования запросов к базам данных). Механизм записи и чтения изображений путем преобразования в двоичные данные и обратно.
11. Обработка событий в NI LabVIEW (структура типа Event, краткая характеристика Timed Loop и методы их синхронизации).
12. Создание инсталлятора со своим приложением из проекта LabVIEW.
13. Технология компаний Lego и National Instruments – Mindstorms. Описание, назначение (Аппаратная и программная составляющие).
14. Сетевые механизмы передачи данных в LabVIEW (принципы, особенности): NI DataSocket, NI Shared Variable. Для чего нужны глобальные переменные, и как они создаются?
Список полезной литературы для подготовки к экзамену:
1. LabVIEW для всех /Джеффри Тревис, Джим Кринг: Пер. с англ. Михеев М.- М.: ДМК Пресс; ПриборКомплект, 2011. – 904 с.: ил. 2. LabVIEW FPGA. Реконфигурируемые измерительные и управляющие системы /Ефим Баран.- М.: ДМК Пресс; ПриборКомплект, 2009. –448 с.: ил. 3. Measurement and automation 07. Catalog – National Instruments, 2007. – 488 с. 4. http://www.labview.ru/labview/new_in_labview_2010/ - Новое в LabVIEW 2010 5. http://ni.com – официальный сайт компании National Instruments (характеристики оборудования (http://www.ni.com/products/), особенности программирования, тематические форумы) 6. Комплект методических пособий к курсу лабораторных работ по дисциплине «Компьютерные технологии» 7. Презентация по технологии Lego Mindstorms 8. Презентации по программированию в LabVIEW FPGA 9. Руководство пользователя по библиотеке функций Database Connectivity
Черкашин Сергей Владимирович
|